顯微光譜測量系統
顯微光譜測量系統，集成熒光、拉曼、反射和透射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器（或其他光源）、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；特別是，此系統可以加裝二維電控掃描臺，通過軟件控制，實現光譜二維空間掃描測量功能。
應用領域
植物葉片研究；激光材料評價；半導體材料分析；生物和細胞測試；光子晶體測試；珠寶、古籍檢測;納米材料分析；
搭建模式
拉曼測量 拉曼探頭可直接插入顯微光譜測試模塊中，從而快速實現拉曼光譜測量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實現488nm、532nm、633nm、785nm激發波長的拉曼光譜測量. 熒光測量 顯微光譜測量模塊內部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接，也可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發功率或更好的光斑質量。另外，模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發波長的激發濾光片和發射濾光片，實現不同激發波長的顯微熒光測量。
顯微光譜測量系統參數：
產品名稱 |
顯微拉曼 |
顯微熒光 |
光譜范圍 |
200-4000波數 @532nm |
185-1100nm |
分辨率 |
18波數@25μm 狹縫 |
2.5nm@5um狹縫 |
設計思路 |
顯微鏡+便攜式光譜儀 |
連接方式 |
SMA905光纖，一端接口連接光譜儀
SMA905光纖，另一端連接激光器；或自由空間輸入光源 |
激發源 |
532nm拉曼專用激光器
功率：0～300mw連續可調 |
復合光源(汞燈等)
激光器(405nm/532nm/785nm等) |
信噪比 |
500:1(若需更高信噪比，可更換為制冷型CCD，信噪比可達到1000:1) |
A/D |
16位 |
探測器 |
濱松科學級，薄型背照式CCD |
雜散光 |
< 0.1% @ 600nm |
線性度 |
>99% |
動態范圍 |
10000:1 |
暗噪聲 |
50RMS@18位 |
積分時間 |
4ms-65 s |
| 顯微鏡 |
4X平場消色差物鏡，數值孔徑：0.1，工作距離：30mm |
10X平場消色差物鏡，數值孔徑：0.25，工作距離：10.2mm |
40X平場消色差物鏡，數值孔徑：0.65，工作距離：0.7mm |
100X平場消色差物鏡，數值孔徑：1.25，工作距離：0.2mm |
二維平移臺 |
手動調節 雙層鋼絲結構載物平臺（康寧玻璃臺面），尺寸：302mm×152mm；78mm×32mm，1mm/格，精度0.1mm
電動調節（選配） 行程：50mmx50mm；重復定位精度：2um；移動分辨率：1um； |
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